Name: High Quality Brass Spring Loaded 4 Pin PCB Contact Pin for Electronic Device
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

المنزل > المنتجات > تحقيقات اختبار الربيع >

High Quality Brass Spring Loaded 4 Pin PCB Contact Pin for Electronic Device

brass spring loaded PCB pin,4 pin PCB contact probe,spring test probes for electronics

4 pin PCB contact probe

spring test probes for electronics

مكان المنشأ:

الصين

اسم العلامة التجارية:

WINNER

إصدار الشهادات:

ISO9100

اتصل بنا

اطلب اقتباس

High Quality Brass Spring Loaded 4 Pin PCB Contact Pin for Electronic Device

تفاصيل المنتج

اسم المنتج:

مسبار اختبار الربيع

برميل:

PB، مطلي بالذهب

المكبس السفلي:

BeCu/SK4، مطلي بالذهب

المكبس العلوي:

SK4 (Be Cu)/مطلي بالذهب

ربيع:

SWPB(SUS)/مطلي بالذهب

التوفر:

أحجام مخصصة متوفرة

طلاء:

مطلي بالذهب

التقييم الحالي:

اتصل بالمقاومة:

100 ميغا كحد أقصى

عرض النطاق الترددي:

-0.98 ديسيبل @ 19.6 جيجا هرتز

محاثة:

1.27نH

السعة:

1.67pF

السكتة الدماغية الكاملة:

1.25mm

السباق المسموح به:

0.9mm

قوة الربيع:

43 جرامًا عند 0.9 ملم

الحياة الميكانيكية تتجاوز:

200k

إبراز:

brass spring loaded PCB pin,4 pin PCB contact probe,spring test probes for electronics

4 pin PCB contact probe

spring test probes for electronics

شروط الدفع والشحن

الحد الأدنى لكمية

3000pcs

الأسعار

999

تفاصيل التغليف

التعبئة المحايدة أو بشعار OEM

وقت التسليم

5-8 أيام عمل

شروط الدفع

خطاب الاعتماد، ويسترن يونيون، تي / تي

القدرة على العرض

100000 لفات شهريا

منتجات ذات صلة

High Quality Brass Spring Loaded 4 Pin PCB Contact Pin for Electronic Device

احصل على أفضل سعر

Double-head Test Probe Spring Contact Pin for IC Testing YOUFU UF-FTO55FD030-002

احصل على أفضل سعر

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for PCB Testing

احصل على أفضل سعر

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for IC Testing

احصل على أفضل سعر

اتصل بنا

اتصل الآن

وصف المنتج

Double-head Test Probe Spring Contact Pin for IC Testing YOUFU UF-FTO58BF066-002

Dual-Head High-Frequency IC Test Probe

Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications, featuring high efficiency BGA testing capabilities.

Key Product Features

High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory

Product Images