Name: Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for BGA Testing
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

المنزل > المنتجات > تحقيقات اختبار الربيع >

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for BGA Testing

Gold Plated Spring Test Probe,2A Current Rating Pogo Pin,Custom Sizes BGA Test Probe

2A Current Rating Pogo Pin

Custom Sizes BGA Test Probe

مكان المنشأ:

الصين

اسم العلامة التجارية:

WINNER

إصدار الشهادات:

ISO9100

اتصل بنا

اطلب اقتباس

تفاصيل المنتج

اسم المنتج:

مسبار اختبار الربيع

برميل:

PB، مطلي بالذهب

المكبس السفلي:

BeCu/SK4، مطلي بالذهب

المكبس العلوي:

SK4 (Be Cu)/مطلي بالذهب

ربيع:

SWPB(SUS)/مطلي بالذهب

التوفر:

أحجام مخصصة متوفرة

طلاء:

مطلي بالذهب

التقييم الحالي:

اتصل بالمقاومة:

100 ميغا كحد أقصى

عرض النطاق الترددي:

1.98 ديسيبل @ 19.6 جيجا هرتز

محاثة:

1.51نH

السعة:

1.98pF

السكتة الدماغية الكاملة:

2.5 ملم

السباق المسموح به:

1.5 ملم

قوة الربيع:

30 جرامًا عند 1.5 ملم

الحياة الميكانيكية تتجاوز:

200k

إبراز:

Gold Plated Spring Test Probe,2A Current Rating Pogo Pin,Custom Sizes BGA Test Probe

2A Current Rating Pogo Pin

Custom Sizes BGA Test Probe

شروط الدفع والشحن

الحد الأدنى لكمية

3000pcs

الأسعار

999

تفاصيل التغليف

التعبئة المحايدة أو بشعار OEM

وقت التسليم

5-8 أيام عمل

شروط الدفع

خطاب الاعتماد، ويسترن يونيون، تي / تي

القدرة على العرض

100000 لفات شهريا

منتجات ذات صلة

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for BGA Testing

احصل على أفضل سعر

مسبار اختبار IC عالي التردد ذو الرأسين YF DE1-051DF57-01C0

احصل على أفضل سعر

رباعية النحاس عالية الجودة مشحونة 4 دبوس PCB دبوس اتصال للأجهزة الإلكترونية

احصل على أفضل سعر

دبوس اتصال ربيعي لجهاز الاختبار ذو الرأس المزدوج لاختبار IC YOUFU UF-FTO55FD030-002

احصل على أفضل سعر

اتصل بنا

اتصل الآن

وصف المنتج

YOUFU UF-FTO63BD180-001 Dual Head Spring Loaded Pogo Pins

High precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications, featuring high efficiency BGA testing capabilities for semiconductors and SiC wafers.

Key Product Features

High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory

Product Images

Detailed Component Illustration

Customization Options

SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:

Custom diameters to match your specific requirements
Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
Custom mechanical specifications tailored to your application

All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.

Manufacturing Process

Our probe manufacturing facility

Quality control inspection

Packaged probes ready for shipment

العلامات：

أجهزة إلكترونية من أسلاك التونغستين المطلية بالذهب,بحث وتطوير سلك التنغستن 0.01 مم,إلكترونيات سلك الموليبدينوم المطلي بالذهب

Gold Plated Spring Test Probe,2A Current Rating Pogo Pin,Custom Sizes BGA Test Probe

gold plated molybdenum wire electronics

أرسل استفسارك مباشرة إلينا